Продавец ИП "Лаборант" развивает свой бизнес на Satu.kz 11 лет.
Знак PRO означает, что продавец пользуется одним из платных пакетов услуг Satu.kz с расширенными функциональными возможностями.
Сравнить возможности действующих пакетов
Начать продавать на Satu.kz
Корзина
17 отзывов
+7 (727) 354-80-02
+7 (747) 250-80-02
+7 (747) 250-80-02
ул. Навои 7, Алматы, Казахстан
Корзина
Микроскопы оптом и в розницу

Металлографические микроскопы

Металлографический микроскоп предназначен для исследований в отраженном свете как объектов металлической природы, так и любых непрозрачных или полупрозрачных материалов.

Металлографические микроскопы MAGUS используют в металлургии, минералогии, геологии, археологии, микроэлектронике и т.д. Если говорить об исследовании металлических микроструктур, то объектами исследований здесь часто являются "шлифы", то есть вырезанные и тщательно отшлифованные пластинки металла.

С помощью металлографических микроскопов в отраженном свете проводится анализ зерен металла (размер и расположение), неметаллических включений и фаз в металле (анализ частиц); контроль структуры поверхностного слоя (шероховатость и плоскостность), а также обнаружение различных дефектов. Металлографические микроскопы MAGUS помогут выявить мелкие трещины, раковины и дефекты кристаллического строения.

 

в виде галереив виде списка

Микроскопы металлографические бывают прямые и инвертированные. Разница между ними состоит в том, как расположены объективы, насадка и окуляры по отношению к объекту. В прямых металлографических микроскопах наблюдательная часть расположена над объектом. В инвертированных – под объектом.

Часто металлографический микроскоп комплектуются поляризатором и анализатором для проведения исследований в поляризованном свете. А используя некоторые из металлографических микроскопов можно наблюдать объекты не только в светлом, но и в темном поле, что позволяет достичь очень точных результатов исследований. Подробно о методах исследования и контрастирования можно прочитать в статье Металлографические исследования по методам светлого и темного поля в отраженном свете.