EVO MA

Описание микроскопа

Свернуть

Все микроскопы серии EVO в своей конструкции использую передовые технологии TTL и BeamSleeve, что позволяет получать несравнимо лучшее качество изображения в режиме переменного давления (VP).

Есть три модификации микроскопа EVO MA:


  • EVO MA 10 предпочитает большинство пользователей при анализе материалов. Большой 5 осевой столик, режим низкого вакуума в стандартной комплектации, множество дополнительных аксессуаров и удобное программное обеспечение SmartSEM делает EVO MA 10 прекрасным решением для современного анализа материалов. 

  • EVO MA 15 предпочтителен при решении материаловедческих аналитических задач для исследования более тяжелых и крупных образцов. Прикладные области - геология, судебная экспертиза и анализ дефектов. 

  • EVO MA 25 является предпочтительным для тех пользователей, которые исследуют очень крупные и тяжелые образцы. EVO MA 25 имеет более высокую камеру, которая в состоянии вместить в себя образцы больше чем 200 мм высотой. Прикладные области - судебная экспертиза, музейные экспонаты, производство автомобилей, космос, ЖК экраны и печатные платы. 


  •                   

                       

                      

    Технические характеристики

    Свернуть
    Разрешение
    3 нм (2нм)@ 30 кВ, SE, W (LaB6)
    4.5 нм@ 30 кВ, BSD (VP режим)
    15 нм@ 30 кВ, 1нА, LaB6
    20 нм (15 нм)@ 1 кВ, SE, W (LaB6)
    10 нм@ 3 кВ, SE
    Ускоряющее напряжение
    0.2 – 30 кВ
    Увеличение
    EVO MA10 и LS10
    EVO MA15+25 и LS15+25
    < 7 – 1 000 000x< 5 – 1 000 000x
    Размер поля зрения
    6 мм на аналитическом рабочем отрезке (AWD)
    X-ray анализ
    8.5 мм AWD и 35 градусах наклона детектора
    Режимы OptiBeam ®
    Разрешение, анализ, глубина резкости, поле, «рыбий глаз»
    Диапазон давления
    10 – 400 Па (серия MA)
    10 – 3000 Па (серия LS)
    Доступные детекторы
    BSD – детектор обратнорассеяных электронов
    ETSE – детектор вторичных электронов Эверхарта-Торнли
    VPSE – детектор вторичных электронов для VP режима
    EPSE – детектор вторичных электронов для EP режима
    SCD – измеритель тока через образец
    STEM – детектор проходящих электронов (просвечивающий режим)
    CL –катодолюминесцентный детектор
    Камера образца
    EVO MA10 и LS10
    EVO MA15 и LS15
    EVO MA25 и LS25
    310мм(Ø) x 220мм(h)365мм(Ø) x 275мм(h)420мм(Ø) x 330мм(h)
    5-ти осевой моторизованный столик образца
    EVO MA10 и LS10
    EVO MA15 и LS15
    EVO MA25 и LS25
    X = 80 мм, Y = 100 мм,X = 125 мм, Y = 125 мм,X = 130 мм, Y = 130 мм,
    Z = 35 мм, T =-10 ° +90º,Z = 50 мм, T = -10° + 90º,Z = 50 мм, T = -10° +90º,
    R = 360º (непрерывно)R = 360º (непрерывно)R = 360º (непрерывно)
    Управление мышьюУправление мышьюУправление мышью
    или дополнительным джойстиком иили дополнительным джойстиком иили дополнительным джойстиком и
    с панели управленияс панели управленияс панели управления
    Максимальная высота образца
    EVO MA10 и LS10
    EVO MA15 и LS15
    EVO MA25 и LS25
    100мм145мм210мм
    Возможные модификации
    BeamSleeve®, режим расширенного давления (EP), напуск паров воды в камеру
    Размер изображения
    3072 x 2304 точек, режим однократного накопления и непрерывного отображения
    Система управления
    SmartSEM® GUI управление мышью и клавиатурой
    Windows® XP мультиязычная операционная система
    Дополнительная информация
    Питание: 100 – 240 В, 50 или 60 Гц одна фаза, охлаждение воздушное
    Яндекс.Метрика