MERLIN COMPACT MAT

Описание микроскопа

Свернуть
MERLIN Compact с проверенной электронной колонной GEMENI I обеспечивает высокое разрешение и высокие аналитические возможности.

MERLIN Compact является идеальным выбором для достижения изображений высокого разрешения с InLens SE детектором и дополнительным опциональным детектором материального контраста InLens Duo или детектора EsB, работающим при низких ускоряющих напряжениях.

Колонна GEMENI I позволяет получать изображение высокого разрешения при высоком токе луча. Идеально подходит для аналитических приложений. Изображение высокого разрешения с InLens SE детектором. Уникальный материальный контраст с опциональным InLens Duo детектором.


Технические характеристики

Свернуть
Колонна
Разрешение @ 1кВ
1.6 нм
Разрешение @ 15кВ
0.8 нм
Разрешение @ 30кВ (STEM режим)
0,6 нм
Ускоряющее напряжение
0,02-30 кВ
Ток пучка
От 5 пА до 100 нА (в зависимости от конфигурации системы)
Увеличение
12х – 2 000 000х
Катод
Нагреваемый,  с полевой эмиссией электронов, стабильность >0,2%/час
Детекторы в базовой конфигурации
Высокоэффективный встроенный SE детектор
Эверхарт Торнли SE детектор
Опциональные детекторы
Встроенный Duo детектор (заменяющий встроенный SE-детектор)
AsB детектор (стандартный или 4-х канальный усилитель 3DSM)
4QBSD
STEM
Порты для других детекторов  
Столик
5ти осевой эуцентричный
Ось Х
130 мм
Ось Y
130 мм
Ось Z
50 мм
Ось T (наклон)
-3° – +70° градусов
Ось R (вращение)
360 градусов без ограничителя
Камера
330 мм (Ø) х 270 мм (h)
15 дополнительных портов таких как STEM, 4QBSD, EBSD, EDS, WDS
CCD-камера с ИК подсветкой
Вакуумная система
Только режим высокого вакуума
Отображение
Разрешение: до 32768 х 24576 пикселей
Функции интегрирования и усреднения
Скорость сканирования
17 скоростей сканирования электронного луча
Время нахождения пучка в точке 25 нСек
Дисплей
19” TFT монитор с изображением 1024 х 768 пикселей
Система
SmartSEM с Windows, мышь, клавиатура, джойстик, панель управления
Специальные приложения
3View
AFM
Яндекс.Метрика