Dimension FastScan

Описание микроскопа

Свернуть
Сканирующий зондовый микроскоп Dimension FastScan, построенный на платформе легендарного Dimension Icon, позволяет проводить сканирование поверхности образца на экстремально высоких скоростях с таким же высочайшим разрешением и надежностью, что и раньше. Эта инновационная система дает возможность получать достойные публикаций результаты в самые короткие сроки в любой области применения атомно-силовой микроскопии.
С помощью этой системы Вы сможете получать СЗМ изображения исследуемых поверхностей с высочайшим разрешением, унаследованным от микроскопа Dimension Icon при скоростях сканирования свыше 125Гц. Такие скорости позволяют максимально быстро и точно выбирать область для более детального исследования. Возможность сканирования со скоростью 1 кадр в секунду в воздухе и в жидкости изменит Ваше представление о сканирующей зондовой микроскопии.

Технические характеристики

Свернуть
Параметр
Значение
Со сканером Icon
Со сканером FastScan
Диапазон сканирования по X-Y
90 мкм × 90 мкм, 
минимум 85мкм
35 м × 35 мкм, 
минимум 30мкм
Диапазон сканирования по Z
10 мкм в режимах записи изображения и силовых кривых, 
минимум 9.5мкм

≥ 3 мкм

Уровень шума по вертикали
< 30 пм RMS, 
положение в соответствующей среде (до 625 Гц)
< 40 пм RMS, 
датчик в соответствующей среде (до 625 Гц)
Максимальная X-Y скорость зонда 
(ошибка позиционирования 1%)
-> 2 мм/с
Уровень шума по X-Y 
(петля обратной связи)
≤0,15 нм RMS при сканировании  
(частоты до 625 Гц)
≤ 0,20 нм RMS при сканировании 
(частоты до 2,5 кГц в адаптивном режиме)
Уровень шума Z-сенсора

35 пм при сканировании 
(до 625 Гц), 
50 пм при записи силовых кривых (0,1 Гц до 5 кГц)
30 пм при сканировании 
(до 625 Гц)
Плоскостность X-Y (в диапазоне 30 мкм)
-

≤ 3 нм

Интегральная нелинейность X-Y-Z
< 0.5 %< 0.5 %
Размеры образца/держателя
Вакуумный держатель для образцов ≤ 210 мм в диаметре и толщиной ≤ 15 мм
Моторизованная система позиционирования: X-Y
150 мм × 180 мм с вращающимся держателем, 
воспроизводимость: 2 мкм по одной оси, 3 мкм по двум осям
Оптическая система

Цифровая камера 5 Мп, 
Область обзора 180 мкм × 1465 мкм, цифровой зум, моторизованный фокус

Цифровая камера 5 Мп, 
Область обзора 180 мкм × 1040 мкм, цифровой зум, моторизованный фокус

Контроллер/программное обеспечение
Nanoscope V/Nanoscope v.8.15 и более поздних
Рабочая станция
Включает Nanoscope V, Контроллер системы позиционирования, блок высоковольтных усилителей, компьютер. Обладает эргономическим дизайном, обеспечивающим немедленный физический и визуальный доступ к любому модулю
Вибрационная и акустическая изоляция
Интегрированная (для дополнительной информации см. требования к установке)
Режим ACM

Стандартные: 


  • ScanAsyst, 

  • Полуконтактный (в воздухе) 

  • Контактный 

  • Режим латеральных сил 

  • Режим регистрации фазы 

  • Силовая спектроскопия 

  • Двухпроходные режимы 

  • Магнитно-силовой режим 

  • Электро-силовой режим 

  • Кельвин-потенциал (поверхностный потенциал) 

  • Force Volume 

  • Микроскопия пьезоотклика


  • Опциональные: 

  • PeakForce QNM 

  • PeakForce Tuna

  • HarmoniX 

  • Нанодентирование 

  • Наноманипуляции

  • Нанолитография

  • Force Modulation (воздух/жидкость)

  • Полуконтактный режим (жидкость) 

  • Torsional Resonance Mode

  • Dark Lift

  • СТМ 

  • Емкостная микроскопия

  • Проводящая АСМ

  • SSRM

  • TUNA

  • TR-TUNA

  • VITA



  • Стандартные: 
  • ScanAsyst

  • Наномеханическое картрирование

  • Полуконтактный режим(воздух/жидкость)

  • Режим регистрации фазы контактный режим

  • Режим латеральных сил 

  • Двухпроходные методики

  • МСМ

  • ЭСМ 

  • Силовая спектроскопия 

  • Force Volume

  • Опциональные: 
  • Нанодентирование 

  • Наноманипуляции

  • Нанолитография

  • Кельвин-потенциал (поверхностный потенциал)

  • Микроскопия пьезоотклика


  • Соответствие нормам безопасности
    Сертификат CE
    Яндекс.Метрика