MultiMode 8

Описание микроскопа

Свернуть
Сканирующий зондовый микроскоп MultiMode с момента своего создания завоевал заслуженную популярность среди пользователей по всему миру и стал настоящей классикой среди зондовых микроскопов: по статистике научной периодики наибольшее количество СЗМ-изображений было получено именно на микроскопах MultiMode. Широчайший спектр методик для исследования физических свойств поверхности, надежность и потрясающая простота в использовании обеспечили такую популярность линейке микроскопов MultiMode.
Открытая архитектура микроскопа позволяет быстро менять сканирующие головки, сканеры и держатели кантилеверов, подавать на образец сигналы от внешних источников, устанавливать дополнительные модули.
Атомно-силовой микроскоп MultiMode 8 - это система последнего поколения в линейке MultiMode. Работая под самой новейшей электроникой, MultiMode 8, имеет еще больше возможностей и режимов сканирования, возможность быстрого сканирования без потери в разрешении, что, несомненно, делает его эталоном среди существующих атомно-силовых микроскопов. 
Области применения микроскопа: материаловедение, микробиология, нанотехнологии.

Несмотря на то, что больше всего атомно-силовой микроскоп MultiMode известен благодаря своему высокому разрешению, современный MultiMode® 8 использует эксклюзивную технологию компании Bruker PeakForce Tapping™, обеспечивающую получение новой информации, более быстрых результатов и увеличивающую простоту использования. Эксклюзивный режим ScanAsyst® позволяет получать изображение легче, быстрее и более стабильно путем прямого контроля силы взаимодействия зонда и образца и автоматической оптимизации параметров сканирования. ScanAsyst-HR обеспечивает в 6 раз более быстрое сканирование при еще большей продуктивности.

Количественное картирование свойств материала стало возможным благодаря новейшему режиму PeakForce QNM®, который анализирует каждое взаимодействие зонда и образца для выявления наномеханических свойств, в том числе модуль упргости, адгезию и деформацию. Его можно объединить с новым режимом PeakForce TUNA™ , что позволит не только осуществлять картирование проводимости даже на самых хрупких образцах, но и сопоставлять эту информацию с данными о механических свойствах материала. Благодаря этим и многим другим возможностям MultiMode 8 обладает универсальностью, которая поможет преуспеть и получить непревзойденные результаты практически в любой области исследований.


MultiMode 8 реализует следующие режимы работы:
  • Контактный режим 

  • Режим латеральных сил 

  • Полуконтактный режим

  • Режим регистрации фазы

  • Двухпроходный режим

  • Магнитно-силовая микроскопия

  • Электросиловая микроскопия

  • Кельвин-микроскопия (потенциал поверхности)

  • Силовая спектроскопия (в т.ч. силовое картирование)

  • Туннельная микроскопия и спектроскопия

  • Режим торсионных колебаний

  • Микроскопия пьезоотклика

  • Режим Harmonix

  • Наноиндентирование и Нанолитография

  • Наноманипуляции

  • Термическая микроскопия

  • Микроскопия сопротивления растекания,

  • Туннельная АСМ

  • Проводящая АСМ 

  • Емкостная микроскопия 

  • Электрохимическая АСМ

  • Электрохимическая СТМ

  • Термостатирование образцов

  • PeakForceTapping

  • PeakForce QNM

  • ScanAsyst



  • Изображения поверхности многослойного полимера, полученные в режиме PeakForce QNM. 
    Размер скана 10х10 мкм. а) топография, б) адгезия, в) модуль упругости.

    Технические характеристики

    Свернуть
    База микроскопа (одна на выбор)

  • Standard – поддерживает все режимы без дополнительных модулей;

  • Application module ready – поддерживает дополнительные опциональные модули;

  • Non-magnetic application module ready – поддержка работы в магнитных полях


  • Сканеры (на выбор, как минимум один)

  • AS-0.5– 0.4мкм x 0.4мкм по XY и 0.4мкм в Z диапазоне;

  • AS-12– 10мкм x 10мкм по XY и 2.5мкм в Z диапазоне (невертикальный подвод);

  • AS-12VLR – 10мкм x 10мкм по XY и 2.5мкм в Z диапазоне (вертикальный подвод),

  • Возможность работы в жидкости и 4-летняя гарантия от повреждения в жидкости;

  • AS-130VLR – 125мкм x 125мкм по XY и 5мкм в Z диапазоне (вертикальный подвод),

  • Возможность работы в жидкости и 4-летняя гарантия от повреждения в жидкости;

  • AS-12NM – 10мкм x 10мкм по XY и 2.5мкм в Z диапазоне (невертикальный подвод),

  • Из немагнитных материалов для работы в магнитных полях;

  • AS-130NM – 125мкм x 125мкм по XY и 5мкм в Z диапазоне (невертикальный подвод),

  • Из немагнитных материалов для работы в магнитных полях;

  • PicoForce – 40мкм x 40мкм по XY и 20мкм в Z диапазоне,

  • Широкодиапазонная обратная связь по Z для силовой спектроскопии.

  • MMAFMXYZ – 100мкм x 100мкм по XY и 15мкм в Z диапазоне,

  • Обратная связь по XY и Z координатам, не подходит для работы в жидкости


  • Стандартные аксесуары

    Для всех кофигураций Multimode 8:


  • оптический микроскоп с десятикратным увеличением для наблюдения сверху за кантилевером и образцом (видеовыход захватывается и отображается в приложении NanoScope);

  • держатель зонда для большинства режимов, включая проводящие методики;

  • держатель зонда для режима торсионного резонанса (TRmode);

  • начальный набор для МСМ, включающий тренировочные образцы и зонды;

  • калибровочные решетки для калибровки сканера;

  • набор зондов стандартных типов


  • Опциональные аксесуары

    Доступно в качестве опций для всех конфигураций Multimode8:


  • держатель образца зонда для большинства режимов в жидкости;

  • держатель зонда ScanAsyst-HR для высокоскоростного сканирования на воздухе в режиме ScanAsyst;

  • технология PeakForce QNM для количественного наномеханического картирования;

  • нагрев образца до 60°C (совместим со всеми сканерами);

  • возможность работы при температурах от -35 до 250°C (включает сканер 125мкм x 125мкм XY и 5мкм Z диапазоне);

  • контроль окружающей среды, для проведения исследований с контролем влажности;

  • головка СТМ, стандартная и низкотоковая;

  • электрохимические приложения (электрохимическая АСМ и СТМ);

  • PeakForce TUNA;

  • проводящая АСМ (CAFM);

  • туннельная АСМ (TUNA);

  • микроскопия токов растекания;

  • сканирующая емкостная микроскопия;

  • наноидентирование алмазным зондом;

  • держатель зонда для режима модулирования силы;

  • модуль ввода-вывода аналоговых и сигнальных каналов.


  • Вибрационная зашита (один вариант на выбор, или эквивалент пользователя)

  • Стол модели VT-102 размером 60 х 60х 78 см (предполагает наличие линии сжатого воздуха);

  • Пассивная изолирующая платформа VT-50 размером 42 х 42 х 21 см (не требует сжатого воздуха);

  • Изолированная платформа на эластичном подвесе TRVI (не подразумевает использования оптического микроскопа)


  • Уровень шума в режиме записи
    < 0,3 Å (по Z, полуконтактный режим на воздухе в точке)
    Максимальный размер образца
    15мм диаметр, 5мм толщина
    Соответствие нормам безопасности
    Сертификат CE
    Класс лазерного оборудования
    Класс 2М, 1мВ, 690нм (IEC и US CDRH)
    Яндекс.Метрика